Electromigration Modeling at Circuit Layout Level

Electromigration Modeling at Circuit Layout Level

AngličtinaMäkká väzbaTlač na objednávku
Tan, Cher Ming
Springer Verlag, Singapore
EAN: 9789814451208
Tlač na objednávku
Predpokladané dodanie v utorok, 18. augusta 2026
55,15 €
Bežná cena: 61,28 €
Zľava 10 %
ks
Chcete tento titul ešte dnes?
kníhkupectvo Megabooks Banská Bystrica
nie je dostupné
kníhkupectvo Megabooks Bratislava
nie je dostupné
kníhkupectvo Megabooks Košice
nie je dostupné
EAN 9789814451208
ISBN 9814451207
Typ produktu Mäkká väzba
Vydavateľ Springer Verlag, Singapore
Dátum vydania 4. mája 2013
Stránky 103
Jazyk English
Rozmery 235 x 155
Krajina Singapore
Autori He Feifei; Tan, Cher Ming
Ilustrácie 2 Illustrations, color; 73 Illustrations, black and white
Edícia 2013 ed.
Séria SpringerBriefs in Reliability
Informácie o výrobcovi
Kontaktné informácie výrobcu sú dostupné tu.