Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

AngličtinaMäkká väzbaTlač na objednávku
Goldstein, Joseph
Springer-Verlag New York Inc.
EAN: 9781461276531
Tlač na objednávku
Predpokladané dodanie v utorok, 14. júla 2026
110,31 €
Bežná cena: 122,57 €
Zľava 10 %
ks
Chcete tento titul ešte dnes?
kníhkupectvo Megabooks Banská Bystrica
nie je dostupné
kníhkupectvo Megabooks Bratislava
nie je dostupné
kníhkupectvo Megabooks Košice
nie je dostupné
EAN 9781461276531
ISBN 1461276535
Typ produktu Mäkká väzba
Vydavateľ Springer-Verlag New York Inc.
Dátum vydania 28. septembra 2011
Stránky 840
Jazyk English
Rozmery 254 x 178
Krajina United States
Čitatelia Professional & Scholarly
Autori Echlin Patrick; Fiori Charles; Goldstein, Joseph; Joy, David C.; Lifshin Eric; Lyman Charles E.; Newbury Dale E.; Romig Jr., Alton D.
Ilustrácie 840 p.
Edícia Second Edition 1992
Informácie o výrobcovi
Kontaktné informácie výrobcu sú dostupné tu.