Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

AngličtinaMäkká väzbaTlač na objednávku
Goldstein, Joseph
Springer-Verlag New York Inc.
EAN: 9781461349693
Tlač na objednávku
Predpokladané dodanie v utorok, 14. júla 2026
122,57 €
Bežná cena: 136,19 €
Zľava 10 %
ks
Chcete tento titul ešte dnes?
kníhkupectvo Megabooks Banská Bystrica
nie je dostupné
kníhkupectvo Megabooks Bratislava
nie je dostupné
kníhkupectvo Megabooks Košice
nie je dostupné
EAN 9781461349693
ISBN 1461349699
Typ produktu Mäkká väzba
Vydavateľ Springer-Verlag New York Inc.
Dátum vydania 31. mája 2013
Stránky 689
Jazyk English
Rozmery 254 x 178
Krajina United States
Čitatelia Professional & Scholarly
Autori Echlin Patrick; Goldstein, Joseph; Joy, David C.; Lifshin Eric; Lyman Charles E.; Michael J.R.; Newbury Dale E.; Sawyer, Linda
Ilustrácie XIX, 689 p.
Edícia Third Edition 2003
Informácie o výrobcovi
Kontaktné informácie výrobcu sú dostupné tu.