Software Defect and Operational Profile Modeling

Software Defect and Operational Profile Modeling

AngličtinaMäkká väzbaTlač na objednávku
Kai-Yuan Cai
Springer-Verlag New York Inc.
EAN: 9781461375593
Tlač na objednávku
Predpokladané dodanie v stredu, 10. júla 2024
202,84 €
Bežná cena: 225,37 €
Zľava 10 %
ks
Chcete tento titul ešte dnes?
kníhkupectvo Megabooks Banská Bystrica
nie je dostupné
kníhkupectvo Megabooks Bratislava
nie je dostupné
kníhkupectvo Megabooks Košice
nie je dostupné

Podrobné informácie

also in: THE KLUWER INTERNATIONAL SERIES ON ASIAN STUDIES IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE, Volume 1
EAN 9781461375593
ISBN 1461375592
Typ produktu Mäkká väzba
Vydavateľ Springer-Verlag New York Inc.
Dátum vydania 12. októbra 2012
Stránky 268
Jazyk English
Rozmery 235 x 155
Krajina United States
Čitatelia General
Autori Kai-Yuan Cai
Ilustrácie XIX, 268 p.
Edícia Softcover reprint of the original 1st ed. 1998
Séria International Series in Software Engineering