Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs

Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs

AngličtinaPevná väzbaTlač na objednávku
Shen Ruijing
Springer-Verlag New York Inc.
EAN: 9781461407874
Tlač na objednávku
Predpokladané dodanie v utorok, 4. augusta 2026
110,31 €
Bežná cena: 122,57 €
Zľava 10 %
ks
Chcete tento titul ešte dnes?
kníhkupectvo Megabooks Banská Bystrica
nie je dostupné
kníhkupectvo Megabooks Bratislava
nie je dostupné
kníhkupectvo Megabooks Košice
nie je dostupné
EAN 9781461407874
ISBN 1461407877
Typ produktu Pevná väzba
Vydavateľ Springer-Verlag New York Inc.
Dátum vydania 18. marca 2012
Stránky 306
Jazyk English
Rozmery 235 x 155
Krajina United States
Čitatelia Professional & Scholarly
Autori Shen Ruijing; Tan, Sheldon X.-D.; Yu Hao
Ilustrácie XXX, 306 p.
Edícia 2012
Informácie o výrobcovi
Kontaktné informácie výrobcu sú dostupné tu.