Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen

Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen

NemčinaMäkká väzba
Baumann Peter
Springer, Berlin
EAN: 9783658409562
Na objednávku
Predpokladané dodanie v utorok, 11. augusta 2026
43,23 €
Bežná cena: 48,04 €
Zľava 10 %
ks
Chcete tento titul ešte dnes?
kníhkupectvo Megabooks Banská Bystrica
nie je dostupné
kníhkupectvo Megabooks Bratislava
nie je dostupné
kníhkupectvo Megabooks Košice
nie je dostupné

Podrobné informácie

Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit PSPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperr- Schicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler. Im abschließenden neuen Kapitel wird die Ermittlung der Modell- Parameter von Sensoren zur Erfassung von Temperatur, Licht, Feuchte, Kraft, Schall, Gaskonzentration und pH-Wert behandelt.

EAN 9783658409562
ISBN 3658409568
Typ produktu Mäkká väzba
Vydavateľ Springer, Berlin
Dátum vydania 2. mája 2023
Stránky 217
Jazyk German
Rozmery 240 x 168
Krajina Germany
Autori Baumann Peter
Ilustrácie XIV, 217 S. 225 Abb., 15 Abb. in Farbe.
Edícia 3. Aufl. 2023
Informácie o výrobcovi
Kontaktné informácie výrobcu momentálne nie sú dostupné online, na náprave intenzívne pracujeme. Ak informáciu potrebujete, napíšte nám na [email protected], radi vám ju poskytneme.