On-Chip Time-Domain Metrology in Submicron CMOS

On-Chip Time-Domain Metrology in Submicron CMOS

AngličtinaMäkká väzba
Lin Chin-Hsin
LAP Lambert Academic Publishing
EAN: 9783659308208
Na objednávku
Predpokladané dodanie v utorok, 9. júla 2024
51,70 €
Bežná cena: 57,44 €
Zľava 10 %
ks
Chcete tento titul ešte dnes?
kníhkupectvo Megabooks Banská Bystrica
nie je dostupné
kníhkupectvo Megabooks Bratislava
nie je dostupné
kníhkupectvo Megabooks Košice
nie je dostupné
EAN 9783659308208
ISBN 365930820X
Typ produktu Mäkká väzba
Vydavateľ LAP Lambert Academic Publishing
Dátum vydania 21. decembra 2012
Stránky 96
Jazyk English
Rozmery 229 x 152 x 6
Čitatelia General
Autori Lin Chin-Hsin